- ISO 18114:2003
- изд.1 B TC 201/SC 6Химический анализ поверхности. Масс- спектрометрия с вторичными ионами. Определение коэффициентов относительной чувствительности по эталонным материалам с имплантированными ионами—————раздел 71.040.40
Стандарты Международной организации по стандартизации (ИСО). Каталог (в 2-х частях). — М.: ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 2008.